Axis Supra+具备极佳的采谱和成像灵敏度。
　　Axis Supra+独特的高功率X射线源和浸入式磁透镜设计确保获取极高的灵敏度。高灵敏度可实现在短时间收集数据。Axis Supra+的高灵敏度有效保证低含量元素及低光电子截面的轻元素的测定。

钠离子电池正极材料全谱，扩展区域为微量元素，左上（插图）为高分辨率的Mn 3s高分辨谱图，表明Mn为Mn⁴⁺

　　ESCApe软件使用户与谱仪的交互简单化和智能化，可以进行谱仪的控制、数据的采集和分析。实现了硬件自动化、数据采集和处理自动化。ESCApe群组阵列分析功能可以获得样品特定区域内表面元素信息。

铜纳米粒子在石墨衬底上不均匀分布的群组阵列分析(颜色比例表示元素相对浓度)

　　Axis Supra+具备独特的球面镜分析器和专利的二维阵列延迟线检测器，可以同时记录光电子的信号强度及其发射位置，亦可以在数秒的时间里获取完整的XPS谱图，可获得高空间分辨率的快速平行成像，空间分辨率优于1um，且易于从图像数据集获取每个像素点的谱图。

PEG涂层对PP医用网状植入物的包覆情况：图中绿色显示主要为C-O分布，PEG覆盖程度较好；红色主要为C-C分布，表面PEG基本未覆盖；黄色区域则为PEG与PP共存的区域

　高分辨率的重要性

　　XPS作为一种重要的表面分析技术，分辨率是评估仪器性能的重要指标，通常会Ag3d5/2的半高宽用来衡量仪器分开两个光电子能量接近的峰的能力。要正确评估仪器的性能，必须在给定能量分辨率的条件下同时给出计数率。

　决定仪器分辨率的因素

　　如果云顶国际假设XPS的谱线是由几个高斯峰的卷积，则测试获得的XPS谱线的宽度是由三部分构成的，即发射谱线的宽度、X射线源的展宽和检测系统的展宽：

　　其中W_A是发射谱线的线宽，W_X是X射线的线宽，而W_D是检测系统的展宽；
　　发射谱线的宽度是本征的，由其电子能级本身决定，无法通过仪器的参数来改变；X射线源的展宽对特定的X射线源也是固定的，但是可以通过仪器的硬件设置改变，例如是否使用单色化的X射线源--500mm罗兰圆的单色化的Al Ka线宽0.25eV，非单色化则为0.85eV，所以使用单色化光源的分辨率就好于非单色化的X射线源；仪器的半球能量分析器半径和通能共同决定了检测系统的展宽--能量分析器半径越大，本征的能量分辨就越好。
　　Axis Supra+采用500mm罗兰圆、大平均半径的双聚焦半球能量分析器，可以获得更高的能量分辨。

Si衬底上自然氧化物采集的高能量分辨Si 2p窄扫描

　　● 可一次装入3个样品条，样品条可在进样室和分析室之间自动传输，并可在分析室中实现自动交换
　　● 高吞吐量、快速队列样品分析模式实现连续分析
　　● 样品在预抽期间可进行分析区域和数据采集方法的设定
　　● 软件切换单色化Al及高能AgLa X射线源靶点，快速简便切换靶材
　　● 智能化数据采集及拟合
　　. Data Dependent Acquisition (DDA) -对于未知的样品，软件智能识别所含元素并智能设定高分辨谱的采谱区间，同时可以删掉不关注的元素，也可以增加特别关注的、全谱扫描可能检测（识别）不出来的元素。
　　. Known sample workflow (KSW) -根据一个已知样品的数据处理（解谱）结果，将解谱模型套用到一系列的同类（类似）样品的数据上，一次性地批量处理（解谱）所有样品。

KSW工作流程示例