电势绘图

观察硅基底上的金喷镀面，用矢量扫🦹描模式按照图1所示的轨迹进行绘图。此时，用导电性探针，在探针与样品间形成微小电势。绘图后，用AFM、KFM同时测定，在AFM像（图2）的形貌观察中未看到变化，在KFM像（图3）的电位测定中发现描画轨迹的电位比周围约低50mV。