中国
分析检测仪器
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金属粒界
观察经锐敏⛦化热处理的SUS304的样品表面的粒界。左图为AFM凹凸像,右图为KFM电位像。由于组成的差异🏅,在KFM像中粒界部分的电位比周边高80mV。(本图片由早稻田大学 理工学院 物质开发工学科 酒井润一先生提供)