前沿设计的X射线分光器可以实现高灵敏度·高精度分析
X射线取出角决定分析性能，52.5°高取出角更胜一筹
图为小孔穴中异物的分析实例。左下图为铁（Fe）、⛦右下图为钛（Ti）的元素分布。因EPMA-1720具有高取出角，对表面凹凸明显的样品也能进行高精度分析。
从SEM观察到开始分析，简便易行，大幅度提高工作效率。
同一显示器上同时显示高灵敏度的光学图像和SEM图像
在同一个显示器上观察光学图像和SEM图像。
SEM图像和光学图像在同一显示器上，减少视线的移动。
通过高灵敏度的CCD可以观察很暗的样品。
只需单击一下即可开始SEM图像观察。
只需点击【SEM AUTO】图标，就可以根据事先设定的条件进行SEM图像的观察。
束流变换更加简单·快速·高精度，且保持聚焦。
只需选定束流目标值即可快速、高精度地自动设定束流。
通过联动控制，束流大小改变后也能保持图像聚焦状态。
※外观及规格的变动，恕不另行通知。